EVAL-ADN2817EBZ（报价、图片、封装、技术参数及文档）

产品参考图片

EVAL-ADN2817EBZ

制造厂商：AD/ADI（Analog Devices，亚德诺半导体）
类别封装：开发板，套件，编程器 > 评估板 > 评估和演示板及套件，封装:
技术参数：EVAL BOARD FOR ADN2817
（丰富的AD公司产品，AD芯片采购平台）
（提供当日发货、严格的质量标准，满足您的目标价格）

点击下图下载技术文档

EVAL-ADN2817EBZ 技术参数详情：

EVAL-ADN2817EBZ是亚德诺半导体（Analog Devices）推出的一款用于评估ADN2817芯片性能的官方演示板。该评估板的核心设计围绕ADN2817这一高性能时钟和数据恢复（CDR）芯片展开，其架构旨在精确地从高速串行数据流中提取出低抖动的时钟信号，并完成数据的重新定时与整形。板载电路完整呈现了芯片的参考设计，包括必要的电源管理、时钟输入输出接口以及数据通道，为工程师提供了一个即用型平台，用以验证芯片在目标系统环境下的实际表现。

该评估板所承载的ADN2817芯片具备从10 Mbps到2.7 Gbps的宽范围数据速率连续捕获能力，这一特性使其能够灵活适配多种不同标准的通信协议。其恢复的时钟信号具有极低的抖动，这对于保证高速数据链路的误码率（BER）性能至关重要。板卡设计充分考虑了信号完整性，通过精心布局的传输线、匹配的终端以及高质量的连接器，确保评估过程中能够真实反映芯片在时钟和数据恢复方面的核心性能，如锁定时间、抖动容限和抖动传递特性。

在接口与参数方面，评估板提供了标准化的电气接口，方便用户接入光模块、测试仪器或自定义的数据源与接收设备。其关键性能参数直接由ADN2817芯片定义，除了宽泛的数据速率范围，还包括对多种编码格式的支持、可编程的环路带宽以优化不同应用场景下的抖动性能，以及集成的信号丢失（LOS）检测功能。用户可以通过板载的测试点便捷地测量关键节点的波形，或通过配置选项调整芯片的工作模式。对于需要获取此评估板进行前期研发验证的工程师，可以通过正规的ADI中国代理渠道咨询相关技术资料与库存信息。

鉴于其功能定位，EVAL-ADN2817EBZ评估板主要应用于光纤通道、千兆以太网、SONET/SDH等光通信系统的研发与测试阶段。它帮助设计人员快速评估CDR电路在真实链路中的表现，优化系统时钟架构，并诊断由时钟抖动引起的信号完整性问题。尽管该产品目前已处于停产状态，但其作为ADN2817芯片的经典参考设计，所体现的设计思路和验证方法对于相关领域的高速数字系统设计仍具有重要的参考价值。