EVAL-ADXL375Z是亚德诺半导体（ADI）推出的一款用于ADXL375三轴MEMS加速度计的功能完备评估板。该评估板旨在为工程师提供一个快速、便捷的原型开发与性能验证平台，使其能够充分评估ADXL375传感器在±200g高冲击测量应用中的各项特性。板载设计包含了传感器、必要的去耦电路以及灵活的接口连接器，用户仅需连接电源和主机控制器即可开始数据采集与评估工作。

该评估板的核心是ADXL375传感器，其内部采用成熟的MEMS工艺制造的多晶硅表面微加工结构。该结构通过电容式感应来检测加速度引起的位移，并经由精密的信号调理电路转换为数字信号输出。板载的ADXL375传感器集成了完整的信号链，包括一个多路复用器、一个低噪声前置放大器、一个抗混叠滤波器以及一个高精度的模数转换器（ADC），确保了在宽动态范围内的高精度测量。这种高度集成的架构不仅简化了外部电路设计，也显著提升了系统的可靠性与稳定性。

在功能上，EVAL-ADXL375Z评估板完整展现了ADXL375芯片的卓越性能。其最突出的特点是能够测量高达±200g的加速度，这一量程使其特别适用于检测高冲击事件。板载传感器提供了20.5LSB/g的灵敏度，结合其13位的输出分辨率，能够精确分辨微小的加速度变化。评估板通过排针引出了传感器的IC和SPI数字接口，用户可以根据系统需求灵活选择通信协议，方便与各类微控制器或处理器连接。其供电范围设计为2V至3.6V，兼容大多数低功耗嵌入式系统的电源标准。

为了便于用户进行深入评估与开发，该评估板提供了丰富的硬件接口和物理特性。板载的测试点允许用户方便地探测关键信号。对于需要批量采购或获取技术支持的开发者，可以通过正规的ADI代理渠道获取该评估板及相关元器件，以确保产品的正宗来源和完整的售后服务。其紧凑的板型设计也便于集成到用户的测试夹具或早期原型机中。

基于其高量程和高精度的特性，EVAL-ADXL375Z评估板主要面向需要监测高冲击、高加速度的应用场景。典型应用包括工业设备的状态监测与预测性维护，例如用于检测电机、涡轮机或重型机械的异常振动与冲击；在消费电子领域，可用于无人机、运动相机等设备的跌落检测与冲击记录；此外，在运输物流、体育科学分析以及汽车碰撞数据记录等领域，该评估板也能作为前期技术验证的理想工具，帮助工程师快速完成算法开发与系统集成测试。

• 型号:EVAL-ADXL375Z
• 品牌:Analog Devices Inc. (ADI,亚德诺半导体)
• 封装:
• 类目:开发板，套件，编程器 > 评估板 > 传感器评估板
• 描述:EVAL BOARD FOR ADXL375
• 系列:-
• 包装:盒
• 产品状态:在售
• 传感器类型:加速计，3 轴
• 感应范围:±200g
• 接口:I2C，串行，SPI
• 灵敏度:20.5LSB/g
• 电压 - 供电:2V ~ 3.6V
• 嵌入式:无
• 内含物:板
• 使用的 IC/零件:ADXL375
• EVAL-ADXL375Z优势代理货源，国内领先的AD芯片采购服务平台。

EVAL-ADXL375Z是亚德诺半导体（ADI）为其ADXL375三轴MEMS加速度计设计的专用评估板。该板卡的核心价值在于提供了一个即插即用的硬件平台，使工程师能够快速评估ADXL375传感器在±200g超高量程下的性能表现。

评估板完整集成了ADXL375传感器，其关键参数包括针对高冲击测量的±200g感应范围、20.5LSB/g的灵敏度，并通过IC或SPI数字接口输出13位分辨率的加速度数据。其2V至3.6V的宽电源电压范围确保了与多数低功耗系统的兼容性。该评估板是开发冲击检测、设备健康监测等高动态范围应用原型系统的理想起点。