EVAL-ADXL375Z-M是亚德诺半导体（ADI）为ADXL375三轴MEMS加速度计设计的官方评估套件。该套件旨在为工程师提供一个完整的硬件与软件平台，用于快速评估ADXL375芯片的性能、验证设计概念并加速产品开发流程。其核心价值在于将高g值加速度测量的复杂硬件设计与调试过程简化，使开发者能够专注于应用层面的算法与功能实现。

该评估板的核心架构围绕ADXL375传感器构建，并集成了必要的信号调理、电源管理和数据接口电路。板载的ADXL375采用成熟的MEMS工艺制造，其传感单元由多晶硅微结构组成，通过差分电容检测原理来测量加速度。评估板通过精心设计的PCB布局与去耦网络，最大限度地降低了噪声干扰，确保了传感器在±200g的宽测量范围内仍能输出高保真的信号。用户可以通过板载的微控制器和接口电路，直接读取经过校准和温度补偿的数字化加速度数据。

在功能上，此评估板充分展现了ADXL375芯片的卓越特性。其最突出的特点是能够可靠地捕获和测量高冲击、高振动环境下的动态加速度，这对于传统低量程加速度计是无法实现的。板载电路支持IC和SPI两种数字接口，为用户提供了灵活的连接选项，便于集成到不同的主控系统中。评估板默认配置的20.5LSB/g灵敏度与2V至3.6V的宽电源电压范围，使其既能满足高分辨率测量的需求，又适用于电池供电的便携式设备。通过配套的软件，用户可以直观地配置传感器的工作模式、数据输出速率和中断阈值，并进行实时数据绘图与分析。

对于接口与关键参数，评估板提供了标准化的连接器，包括用于编程和通信的USB端口以及用于直接连接传感器引脚的标准排针。这使得工程师不仅可以将其作为独立的评估工具，还能将其作为原型设计的一部分，快速搭建系统原型。其评估的ADXL375传感器本身具有出色的零g偏置稳定性和低噪声性能，确保在苛刻环境下数据的准确性。在开发过程中，若需获取更深度的技术支持或批量采购信息，可以咨询专业的ADI代理。

在应用场景方面，EVAL-ADXL375Z-M评估板是开发各类高冲击监测设备的理想起点。它广泛应用于汽车领域的碰撞记录与安全系统测试、工业环境中的设备健康预测性维护（PHM）、运动器材的冲击力分析，以及无人机和机器人导航中的跌落和碰撞检测。通过此评估板，工程师能够快速验证传感器在目标应用中的实际表现，大幅缩短从设计到量产的时间周期。

• 型号:EVAL-ADXL375Z-M
• 品牌:Analog Devices Inc. (ADI,亚德诺半导体)
• 封装:
• 类目:开发板，套件，编程器 > 评估板 > 传感器评估板
• 描述:EVAL BOARD FOR ADXL375
• 系列:-
• 包装:盒
• 产品状态:在售
• 传感器类型:加速计，3 轴
• 感应范围:±200g
• 接口:I2C，串行，SPI
• 灵敏度:20.5LSB/g
• 电压 - 供电:2V ~ 3.6V
• 嵌入式:无
• 内含物:板
• 使用的 IC/零件:ADXL375
• EVAL-ADXL375Z-M优势代理货源，国内领先的AD芯片采购服务平台。

EVAL-ADXL375Z-M是亚德诺半导体（ADI）推出的一款用于ADXL375三轴MEMS加速度计的专用评估板。该板卡为核心传感器提供了即用型硬件平台，便于工程师快速进行性能评估与原型开发。

其核心价值在于能够完整评估ADXL375芯片在±200g宽感应范围内的线性度与可靠性，该量程专为高冲击、高振动测量场景设计。板载电路支持IC与SPI数字接口，并适配2V至3.6V的宽电源电压，确保了系统集成的灵活性。通过此评估板，开发者可直观验证传感器以20.5LSB/g的灵敏度输出高分辨率数据的能力，从而加速在汽车安全、工业监测等关键领域的产品设计进程。