ADG507ABQ是一款由亚德诺半导体（Analog Devices）设计生产的高性能、高可靠性CMOS模拟多路复用器。该器件采用成熟的CMOS工艺与精密的电路设计，内部集成了一个16通道（或可配置为双8通道）的单刀单掷（SPST）模拟开关阵列。其架构核心在于精密的开关单元与低电荷注入设计，确保在切换高精度模拟信号时，由开关动作引入的瞬态误差被降至最低，这对于数据采集系统的完整性至关重要。该芯片采用坚固的陶瓷双列直插（CDIP）封装，专为要求严苛的工业与军事环境而设计。

在功能表现上，ADG507ABQ具备出色的直流与交流特性。其导通电阻典型值较低，且通道间匹配度优异，这保证了多路信号切换时增益误差的一致性。开关动作快速而清晰，最大开关时间仅为300纳秒，能够满足中高速采样系统的时序要求。更关键的是，其电荷注入典型值低至4皮库仑，源极和漏极关断电容也得到良好控制，这极大地减小了开关瞬态对高阻抗源信号的影响，是其在精密测量电路中价值的核心体现。其宽泛的双电源或单电源供电范围，为系统设计提供了灵活性。

该器件的接口与电气参数定义了其应用边界。它支持最高±16.5V的双极性模拟信号范围，导通电阻最大值在300欧姆以内。在关断状态下，通道漏电流极小，典型值在纳安级别，确保了优异的关断隔离度。其工作温度范围覆盖-40°C至+85°C的工业级标准，结合其28引脚CDIP通孔封装形式，表明其面向的是对长期稳定性和环境适应性有高要求的领域。对于需要获取此类已停产但仍具高价值的器件，专业的ADI芯片代理是可靠的供应渠道之一。

基于上述特性，ADG507ABQ的理想应用场景聚焦于对精度和可靠性极为敏感的领域。它常被用于军事和航空航天设备中的冗余信号切换、自动测试设备（ATE）中的高精度矩阵开关、工业过程控制系统的多通道数据采集前端，以及需要切换热电偶、传感器桥路等微弱信号的精密仪器中。其设计初衷便是为了在复杂的电磁环境和温度波动下，持续提供稳定、准确的信号路由功能。

• 型号:ADG507ABQ
• 品牌:Analog Devices Inc. (ADI,亚德诺半导体)
• 封装:28-CDIP
• 类目:集成电路（IC） > 接口 > 模拟开关，多路复用器，解复用器
• 描述:IC MUX DUAL 8:1 300OHM 28CDIP
• 系列:-
• 包装:管件
• 产品状态:停产
• 开关电路:-
• 多路复用器/解复用器电路:8：1
• 电路数:2
• 导通电阻（最大值）:300 欧姆
• 通道至通道匹配 (ΔRon):15 欧姆
• 电压 -电源，单 (V+):10.8V ~ 16.5V
• 电压 - 供电，双(V±):±10.8V ~ 16.5V
• 开关时间(Ton, Toff)（最大值）:300ns，300ns
• -3db 带宽:-
• 电荷注入:4pC
• 沟道电容 (CS(off)，CD(off)):5pF，44pF
• 电流 - 漏泄 (IS(off))（最大值）:1nA
• 串扰:-
• 工作温度:-40°C ~ 85°C（TA）
• 等级:-
• 资质:-
• 安装类型:通孔
• 封装/外壳:28-CDIP（0.600，15.24mm）
• 供应商器件封装:28-CDIP
• ADG507ABQ优势代理货源，国内领先的AD芯片采购服务平台。

ADG507ABQ是ADI推出的一款高性能CMOS模拟多路复用器，采用28引脚CDIP陶瓷封装，具备工业级（-40°C至85°C）工作温度范围。其核心是一个16:1（或可配置为双8:1）的开关阵列，专为高精度信号路由应用设计。

该器件关键参数突出其精密特性：最大300欧姆的低导通电阻配合仅15欧姆的通道间匹配度，确保了切换精度；极低的电荷注入（4pC）与关断漏电流（1nA）最小化了开关瞬态对信号完整性的干扰；300纳秒的快速开关时间满足了中速系统的需求。其支持±10.8V至±16.5V的双电源或10.8V至16.5V的单电源供电，为系统集成提供了灵活性。