- 制造厂商：AD/ADI（Analog Devices，亚德诺半导体）
- 类别封装：集成电路（IC） > 时钟/定时 > 应用特定时钟/定时，封装:256-BGA-ED（27x27）
- 技术参数：IC QUAD PIN FORMATTER 256-LBGA
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ADATE207BBPZ是亚德诺半导体（Analog Devices）推出的一款高性能四通道时序格式化器芯片，采用256引脚LBGA封装，专为高精度自动测试设备（ATE）系统设计。其核心架构集成了四个独立的时序格式化通道，每个通道均包含一个高精度数字延迟线和一个可编程脉冲发生器，能够对输入时序事件进行纳秒级的精确延迟和脉宽控制。芯片内部集成了锁相环（PLL）电路，可确保内部时钟与外部参考源严格同步，为多通道的同步操作提供了稳定的时序基准，这对于需要严格时间对齐的多站点并行测试至关重要。
该器件具备多项关键功能特性。其最大工作频率可达100MHz，能够处理高速测试信号。每个通道的延迟和脉宽均通过数字接口独立编程，分辨率精细，为用户提供了极高的时序配置灵活性。芯片采用2.5V核心供电电压（范围2.375V至2.625V），功耗控制优秀，并支持-25°C至85°C的工业级工作温度范围，确保了在复杂测试环境下的可靠性与稳定性。其表面贴装型封装符合现代自动化生产要求。对于需要获取此型号技术支持和供货服务的用户，可以咨询专业的ADI代理以获取详细信息。
在接口与参数方面，ADATE207BBPZ通过高速串行或并行接口接收来自测试系统控制器的时序数据，并将其转换为精确的物理电平输出，驱动被测器件（DUT）的引脚。其四电路设计允许同时控制四个独立的测试资源，显著提升了测试吞吐率。虽然该器件目前已处于停产状态，但其设计代表了ATE领域对时序精度的严苛要求，在存量系统和特定高要求应用中仍具有重要价值。
该芯片的主要应用场景集中于半导体自动测试设备领域，特别适用于存储器测试、混合信号芯片测试以及需要复杂时序序列的数字逻辑测试。它能够生成精确定义的时钟、选通脉冲和复杂波形，用于设置建立/保持时间、控制读写周期以及触发测量动作，是构建高精度、高可靠性测试平台的核心时序引擎之一。
- 型号:ADATE207BBPZ
- 品牌:Analog Devices Inc. (ADI,亚德诺半导体)
- 封装:256-BGA-ED（27x27）
- 类目:集成电路（IC） > 时钟/定时 > 应用特定时钟/定时
- 描述:IC QUAD PIN FORMATTER 256-LBGA
- 系列:-
- 包装:托盘
- 产品状态:停产
- 南皇电子 可编程:未验证
- PLL:是
- 主要用途:自动测试设备
- 输入:-
- 输出:-
- 电路数:4
- 比率 - 输入:-
- 差分 - 输入:-
- 频率 - 最大值:100MHz
- 电压 - 供电:2.375V ~ 2.625V
- 工作温度:-25°C ~ 85°C
- 安装类型:表面贴装型
- 等级:-
- 资质:-
- 封装/外壳:256-LBGA 焊盘
- 供应商器件封装:256-BGA-ED（27x27）
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ADATE207BBPZ是亚德诺半导体（ADI）生产的一款四通道时序格式化器集成电路，属于时钟与计时专用产品系列。该芯片采用256-LBGA表面贴装封装，核心供电电压为2.5V，支持-25°C至85°C的工业级工作温度范围，专为高性能自动测试设备（ATE）设计。
其核心卖点在于集成了四个独立的格式化通道与锁相环（PLL），支持高达100MHz的工作频率，能够为半导体测试提供纳秒级精度的可编程延迟和脉冲生成功能。这种多通道、高精度的架构使其成为提升测试系统时序控制能力和并行测试效率的关键组件。
