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  • 制造厂商:AD/ADI(Analog Devices,亚德诺半导体)
  • 类别封装:集成电路(IC) > 线性 > 比较器,封装:8-SOIC
  • 技术参数:IC COMPARATOR 1 W/LATCH 8SOIC
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AD8611AR-REEL7 技术参数详情:

AD8611AR-REEL7是亚德诺半导体(ADI)推出的一款高性能、超快速单路比较器。该器件采用带锁存功能的架构设计,其核心是一个高速、精密的电压比较电路,能够在极短的传播延迟内对输入信号进行精确判断,并输出稳定的逻辑电平。其内部集成了精密的输入级和优化的输出驱动级,确保了在高速切换下的信号完整性,同时维持了较低的功耗水平。

该比较器的一个突出特性是其极低的传播延迟,典型值仅为4纳秒,最大值不超过5.5纳秒,这使得它非常适合用于需要快速响应的精密时序控制和高频信号检测系统。其输出为互补型TTL逻辑电平,可直接与数字逻辑电路接口,简化了系统设计。在电源管理方面,它支持3V至5V的单电源供电,静态电流最大值分别为10mA和4mA(具体取决于工作模式),在保证性能的同时兼顾了能效。其输入特性同样出色,最大输入失调电压为7mV(@5V),最大输入偏置电流仅为6A(@5V),结合高达85dB的共模抑制比(CMRR)和73dB的电源抑制比(PSRR),使其在存在噪声或电源波动的环境中也能保持极高的比较精度和稳定性。

在接口与参数方面,AD8611AR-REEL7采用标准的8引脚SOIC封装,支持表面贴装(SMT),便于自动化生产。其工作温度范围覆盖工业级标准的-40°C至85°C,确保了在严苛环境下的可靠运行。尽管该产品目前已处于停产状态,但在许多现有系统和设计中仍扮演着关键角色。对于有需求的工程师,可以通过专业的ADI代理商获取库存或寻找替代方案咨询。

基于其超高速和精密特性,这款比较器广泛应用于高速模数转换器(ADC)的溢出检测、峰值与过零检测电路、高速采样保持电路、脉冲宽度调制(PWM)发生器以及各类测试测量仪器中的阈值判别环节。其快速响应能力使其成为通信设备、雷达系统、医疗成像设备以及自动化测试设备(ATE)中实现精准时序和信号调理的理想选择。

  • 型号:AD8611AR-REEL7
  • 品牌:Analog Devices Inc. (ADI,亚德诺半导体)
  • 封装:8-SOIC
  • 类目:集成电路(IC) > 线性 > 比较器
  • 描述:IC COMPARATOR 1 W/LATCH 8SOIC
  • 系列:-
  • 包装:卷带(TR)
  • 产品状态:停产
  • 类型:带锁销
  • 元件数:1
  • 输出类型:补充型,TTL
  • 电压 - 供电,单/双(±):3V ~ 5V
  • 电压 - 输入补偿(最大值):7mV @ 5V
  • 电流 - 输入偏置(最大值):6A @ 5V
  • 电流 - 输出(典型值):-
  • 电流 - 静态(最大值):10mA,4mA
  • CMRR,PSRR(典型值):85dB CMRR,73dB PSRR
  • 传播延迟(最大值):5.5ns
  • 滞后:-
  • 工作温度:-40°C ~ 85°C
  • 等级:-
  • 资质:-
  • 封装/外壳:8-SOIC(0.154,3.90mm 宽)
  • 安装类型:表面贴装型
  • 供应商器件封装:8-SOIC
  • AD8611AR-REEL7优势代理货源,国内领先的AD芯片采购服务平台。

AD8611AR-REEL7是ADI公司生产的一款超快速、带锁存功能的单路比较器。该器件以其极低的传播延迟(典型4ns,最大5.5ns)为核心优势,能够在高速应用场景中实现精准的信号比较与判决。

它采用3V至5V单电源供电,提供互补型TTL输出,便于与数字系统直接连接。其优异的输入特性,包括低至7mV的输入失调电压和6A的输入偏置电流,配合高达85dB的CMRR和73dB的PSRR,确保了在复杂噪声环境下的高精度和稳定性。器件采用8-SOIC表面贴装封装,工作温度范围为-40°C至85°C,适用于工业级应用。

ADUM6400:集成DC/DC转换器的四通道隔离器(4/0通道方向性)
AD8047:250 MHz、增益1稳定、通用电压反馈型运算放大器
AD843:34 MHz、CBFET快速建立运算放大器
AD9364:1 X 1 RF捷变收发器
LTC2325-12:4 通道、12 位带符号位、每通道 5Msps、同时采样 ADC
ADM809:具有低电平有效推挽输出的微处理器监控电路,采用3引脚SOT-23和SC70封装
LTC4246:带有SPI接口的30mΩ RON 12 V八通道电子断路器
HMC7054:Ka频段HPA
AD215:120 kHz带宽、低失真隔离放大器
AD9260:16位高速过采样ADC
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